<var id="1ddtl"></var>
<thead id="1ddtl"></thead>
<thead id="1ddtl"></thead>
<menuitem id="1ddtl"></menuitem><thead id="1ddtl"><i id="1ddtl"><th id="1ddtl"></th></i></thead><thead id="1ddtl"><i id="1ddtl"></i></thead><var id="1ddtl"></var>
<menuitem id="1ddtl"></menuitem>
<thead id="1ddtl"></thead>
<thead id="1ddtl"></thead><menuitem id="1ddtl"><ruby id="1ddtl"><noframes id="1ddtl"><menuitem id="1ddtl"><ruby id="1ddtl"></ruby></menuitem>
<progress id="1ddtl"></progress><thead id="1ddtl"></thead>
<var id="1ddtl"><dl id="1ddtl"><th id="1ddtl"></th></dl></var><menuitem id="1ddtl"></menuitem>
<menuitem id="1ddtl"></menuitem>
<menuitem id="1ddtl"></menuitem><thead id="1ddtl"></thead>
<thead id="1ddtl"><ruby id="1ddtl"></ruby></thead>
<var id="1ddtl"><ruby id="1ddtl"><th id="1ddtl"></th></ruby></var>
<menuitem id="1ddtl"></menuitem>
您好,歡迎進(jìn)入束蘊儀器(上海)有限公司網(wǎng)站!
全國服務(wù)熱線(xiàn):17621138977
束蘊儀器(上海)有限公司
  • 高分辨薄膜X射線(xiàn)衍射儀檢測
    高分辨薄膜X射線(xiàn)衍射儀檢測

    原位高低溫附件可以在材料合成過(guò)程中來(lái)觀(guān)察材料結構變化,探索材料合成條件;也可以用來(lái)探測充放電到某個(gè)電位下材料隨溫度變換而產(chǎn)生的相應的結構變化,這對探討實(shí)際電池安全性產(chǎn)生的原因之一,即材料結構變化引起的安全問(wèn)題是一種重要的手段; 科研支撐、變溫物相分析、變溫過(guò)程中的晶粒尺寸、晶型、晶胞參數及動(dòng)力學(xué)分析;分析、電池充放電物相分析、原位電化學(xué)反應物相分析。高分辨薄膜 X 射線(xiàn)衍射儀檢測

    時(shí)間:2024-03-04型號:
  • 原位X射線(xiàn)衍射儀檢測
    原位X射線(xiàn)衍射儀檢測

    原位高低溫附件可以在材料合成過(guò)程中來(lái)觀(guān)察材料結構變化,探索材料合成條件;也可以用來(lái)探測充放電到某個(gè)電位下材料隨溫度變換而產(chǎn)生的相應的結構變化,這對探討實(shí)際電池安全性產(chǎn)生的原因之一,即材料結構變化引起的安全問(wèn)題是一種重要的手段;科研支撐、變溫物相分析、變溫過(guò)程中的晶粒尺寸、晶型、晶胞參數及動(dòng)力學(xué)分析;電池充放電物相分析、原位電化學(xué)反應物相分析。原位X射線(xiàn)衍射儀檢測

    時(shí)間:2024-03-04型號:
  • 雙微焦斑單晶X射線(xiàn)衍射儀檢測
    雙微焦斑單晶X射線(xiàn)衍射儀檢測

    布魯克AXS公司全新的D8 ADVANCE X射線(xiàn)衍射儀,采用創(chuàng )造性的達芬奇設計,通過(guò)TWIN-TWIN光路設計,成功實(shí)現了BB聚焦幾何下的定性定量分析和平行光幾何下的薄膜掠入射GID分析、薄膜反射率XRR分析的全自動(dòng)切換,而無(wú)需對光。通過(guò)TWIST TUBE技術(shù),使用戶(hù)可以進(jìn)行雙微焦斑單晶X射線(xiàn)衍射儀檢測。

    時(shí)間:2024-03-04型號:
  • 多晶X射線(xiàn)衍射儀檢測
    多晶X射線(xiàn)衍射儀檢測

    布魯克AXS公司全新的D8 ADVANCE X射線(xiàn)衍射儀,采用創(chuàng )造性的達芬奇設計,通過(guò)TWIN-TWIN光路設計,成功實(shí)現了BB聚焦幾何下的定性定量分析和平行光幾何下的薄膜掠入射GID分析、薄膜反射率XRR分析的全自動(dòng)切換,而無(wú)需對光。通過(guò)TWIST TUBE技術(shù),使用戶(hù)可以進(jìn)行多晶X射線(xiàn)衍射儀檢測。

    時(shí)間:2024-03-04型號:
共 4 條記錄,當前 1 / 1 頁(yè)  首頁(yè)  上一頁(yè)  下一頁(yè)  末頁(yè)  跳轉到第頁(yè) 
Contact Us
  • 聯(lián)系QQ:27228489
  • 聯(lián)系郵箱:wei.zhu@shuyunsh.com
  • 傳真:86-021-34685181
  • 聯(lián)系地址:上海市松江區千帆路288弄G60科創(chuàng )云廊3號樓602室

掃一掃  微信咨詢(xún)

©2024 束蘊儀器(上海)有限公司版權所有  備案號:滬ICP備17028678號-2  技術(shù)支持:化工儀器網(wǎng)    網(wǎng)站地圖    總訪(fǎng)問(wèn)量:105922

<var id="1ddtl"></var>
<thead id="1ddtl"></thead>
<thead id="1ddtl"></thead>
<menuitem id="1ddtl"></menuitem><thead id="1ddtl"><i id="1ddtl"><th id="1ddtl"></th></i></thead><thead id="1ddtl"><i id="1ddtl"></i></thead><var id="1ddtl"></var>
<menuitem id="1ddtl"></menuitem>
<thead id="1ddtl"></thead>
<thead id="1ddtl"></thead><menuitem id="1ddtl"><ruby id="1ddtl"><noframes id="1ddtl"><menuitem id="1ddtl"><ruby id="1ddtl"></ruby></menuitem>
<progress id="1ddtl"></progress><thead id="1ddtl"></thead>
<var id="1ddtl"><dl id="1ddtl"><th id="1ddtl"></th></dl></var><menuitem id="1ddtl"></menuitem>
<menuitem id="1ddtl"></menuitem>
<menuitem id="1ddtl"></menuitem><thead id="1ddtl"></thead>
<thead id="1ddtl"><ruby id="1ddtl"></ruby></thead>
<var id="1ddtl"><ruby id="1ddtl"><th id="1ddtl"></th></ruby></var>
<menuitem id="1ddtl"></menuitem>
治县。| 浪卡子县| 思茅市| 措美县| 唐山市| 平定县| 苗栗市| 兴化市| 贵溪市| 绍兴县| 定西市| 嵊州市| 拉萨市| 湘潭县| 朝阳县| 精河县| 绥阳县| 莫力| 通化县| 莲花县| 若羌县| 四川省| 锡林浩特市| 萝北县| 桐柏县| 通辽市| 武乡县| 峨山| 大足县| 弋阳县| 广河县| 定远县| 唐河县| 山东省| 县级市| 呼伦贝尔市| 石楼县| 朝阳市| 永和县| 安康市| 湾仔区| http://444 http://444 http://444 http://444 http://444 http://444